NETZSCH耐驰LFA427激光法导热分析仪

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品牌：NETZSCH耐驰
生产厂家：NETZSCH耐驰

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NETZSCH耐驰LFA427激光法导热分析仪

对于材料或组分的热传导性能描述，导热系数与热扩散系数是最为重要的热物性参数。激光闪射法是导热测试领域最为广泛使用的一种方法，用于精确测量材料的热扩散系数并计算导热系数。而耐驰公司推出的激光导热仪 LFA 427 则代表了世界范围内同类产品的最高水平。

LFA 427 具有高精度、高重复性、测量快速、样品支架种类丰富、测试气氛可自由设定等突出优点，其总的测量温度范围为 -70℃ … 2800℃。

LFA 427 最新推出带高温计的特别配置版，可在室温至 2800℃ 的宽广温度范围内进行测量。

LFA 427 的样品适应面极广，包括陶瓷、玻璃、金属、熔融物、液体、粉末、纤维与多层材料等各种材料，从低导热材料直至最高导热系数的金刚石，都可在相同的速度与精度下进行测量。仪器直接测试的是随温度而变的热扩散系数，若结合比热值（通常使用 DSC 404 F1 Pegasus 进行测试，也可在 LFA 427 上使用比较法测得）与密度（密度随温度的变化使用热膨胀仪 DIL 402 C 测量计算），则可进一步计算导热系数。

测量所使用的激光能量、脉冲宽度、气氛与真空均可自由选择，可以针对不同的样品性质设定最佳的测量条件。

本仪器拥有完全密封的系统，设计上注重节省空间，其安全等级达到了最高级(1级)，操作时不需要任何特殊的安全措施。软件功能先进，允许仪器工作于手动或全自动模式。并提供特殊支架，用于测试粉末，液体，矿渣，纤维和夹层样品。

LFA 427 是最强大与灵活的 LFA 系统，适用于包括汽车制造、航空航天与能源技术在内的各种领域的常规材料与新型高性能材料的表征。

LFA 427 – 技术参数

• 温度范围：-70 … 400℃, RT … 1300℃, RT … 1500℃, RT … 2000℃/2800℃（四种可选的炉体类型）
• 升降温速率：0.01 … 50 K/min（取决于相应炉体）
• 激光能量：20 J/pulse（功率与脉冲宽度可调）
• 使用红外检测器，进行非接触式的样品表面温升信号测试
• 热扩散系数范围：0.01 … 1000 mm2/s
• 导热系数范围：0.1 … 2000 W/m*K
• 样品直径：6 … 12.7 mm（另可选 20 mm 特殊规格）
• 样品厚度：0.1 … 6 mm
• 样品支架：氧化铝，石墨
• 熔融金属容器：蓝宝石
• 液体样品容器：铂金
• 气氛：惰性，氧化，还原，静态，动态
• 高真空密闭系统，真空度 10^-5mbar

NETZSCH耐驰LFA457激光法导热分析仪

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市场价：￥0.00元
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品牌：NETZSCH耐驰
生产厂家：NETZSCH耐驰

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NETZSCH耐驰LFA457激光法导热分析仪

NETZSCH LFA 457 MicroFlash® 代表了当代激光闪射测量技术的最新进展。仪器为桌上型，温度范围 -125 … 1100℃。为了覆盖这一温度范围，提供了两种可自由切换的炉体。

系统所使用的全新的红外传感器技术使得用户甚至可以在 -125℃ 的低温下测量样品背部的温升曲线。

仪器既可使用内置的自动样品切换器在一次升温中对多个较小的样品进行测量，也可单独测量较大的样品（最大直径 25.4mm）。

真空密闭系统使得仪器可以在多种用户可选的气氛中进行测量。

样品支架、炉体与检测器的垂直式排布方便了样品的放置与更换，同时使得检测信号拥有最佳的信噪比。

LFA 457 是最强大与灵活的 LFA 系统，适用于包括汽车制造、航空航天与能源技术在内的各种领域的常规材料与新型高性能材料的表征。

LFA 457 MicroFlash® – 技术参数

• 温度范围：-125 … 500℃，RT … 1100℃（使用两种可自由更换的炉体）
• 升降温速率：0 … 50 K/min
• 激光能量：15 J/pulse（功率可调）
• 使用红外检测器，进行非接触式的样品表面温升信号测试
• 热扩散系数范围：0.01 … 1000 mm2/s
• 导热系数范围：0.1 … 2000 W/m*K
• 样品直径：10 … 25.4 mm 圆，或 8×8 与 10×10mm 方。
• 样品厚度：0.1 … 6 mm
• 样品支架：碳化硅，石墨
• 熔融金属容器：蓝宝石
• 液体样品容器：铂金
• 气氛：惰性，氧化，还原，静态，动态
• 真空密闭系统，真空度 10-2mbar

NETZSCH耐驰LFA447闪光法导热分析仪

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品牌：NETZSCH耐驰
生产厂家：NETZSCH耐驰

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NETZSCH耐驰LFA447闪光法导热分析仪

NETZSCH 公司 LFA 447 Nanoflash® 闪光导热仪，在材料热扩散与导热性能测量方面又一有力的工具。遵照 ASTM E1461 标准，Nanoflash® 使用氙灯作为加热源加热样品表面，使用红外探测器读取样品温升，减少了潜在的表面热阻，可以精确测量薄的样品如基质上的涂层、薄膜材料或多层样品。

Nanoflash® 的操作实现高度自动化：由软件控制测试温度与闪光灯启闭，并进行数据分析。自动进样系统允许仪器在一次测试过程中测量多个样品。在炉体到达设定温度后，每一数据点的采集通常短于五分钟。仪器可以为每一样品单独设置闪光能量等级、脉冲宽度与温度。其所测量的热扩散系数范围十分宽广，覆盖从聚合物到金刚石各类材料领域。

测量原理：作为加热源的氙灯发射一束脉冲，打在样品的下表面，由红外探测器测量样品上表面的相应温升，并由软件计算出样品的热扩散系数。

仪器可以同步测量热扩散系数（α）与比热（Cp）。比热的测量是通过比较样品的实际温升与已知比热的参比样的温升求得。若已知样品的密度（ρ），则按照下式可计算出样品的导热系数（λ）：
λ(T) = α(T) * Cp(T) * ρ(T)

使用内置的 2 或 4 样品位的自动进样器，可以同时自动进行多个样品的测量。样品托盘操作容易，制样快，测样周期短。

提供独特的矩阵扫描（MTX）选件，用于最大 50 mm × 50 mm 的平板状样品，在整个样品表面测定热扩散系数的差别，x 方向与 y 方向上的分辨率为 100 μm。

LFA 447 – 技术参数

• 温度范围：RT … 300℃
• 氙灯能量：10 J/pulse（功率可调）
• 使用红外检测器，进行非接触式的样品表面温升信号测试
• 热扩散系数范围：0.01 … 1000 mm2/s
• 导热系数范围：0.1 … 2000 W/m*K
• 样品直径：10 … 25.4 mm (圆)，或 8×8、10×10mm (方)。
• 样品厚度：0.1 … 6 mm
• 双样品位或四样品位的自动进样器
• 样品托盘材料：金属
• 液体样品容器：铝／铂金
• 气氛：静态空气
• 矩阵扫描系统（MTX）：用于在室温下测量 50 mm × 50 mm 样品，位移分辨率 0.1 mm