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CM-8820涂镀层测厚仪

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CM-8820涂镀层测厚仪

CM-8820涂镀层测厚仪

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TL泰立CM-8820涂镀层测厚仪

新一代涂层测厚仪CM8820：该仪器巧妙地利用了磁性和涡流的完美结合，从根本上克服了传感器非线性带来的测量误差。它具有测量范围宽：0~2000um,分辨率高,测量准确,使用方便等优点。主要应用：测量钢、铁等铁磁质金属基体上的非铁磁性涂层、镀层，例如：漆、粉未、塑料、橡胶、合成材料、磷化层、铬、锌、铅、铝、锡、镉、瓷、珐琅、氧化层等。

项 目

参 数
产品名称

铁基涂层测厚仪
产品型号

CM-8820
功能

测量铁磁性金属基体上的非导磁涂层的厚度
测量范围

0～2000um
分辨率

0.1/1
准确度

±(5%n+1)
电源

4节5号电池
外形尺寸

161X69X32
应用 应用:测量钢、铁等铁磁质金属基体上的非铁磁性涂层、镀层，例如：漆、粉末、塑料、橡胶、合成材料、磷化层、铬、锌、铅、铝、锡、镉、瓷、珐琅、氧化层等。广泛用于制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域。

XDVM-W射线荧光镀层厚度测试仪

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XDVM-W射线荧光镀层厚度测试仪

XDVM-W射线荧光镀层厚度测试仪

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品牌：英文
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XDVM-W射线荧光镀层厚度测试仪

FISCHERSCOPE® XDVM®-W是一款基于Windows™ 的镀层厚度测量和材料分析的X-射线系统。它杰出的特性包括：2组可切换的各带4个视准器的视准器组，大的开槽的测量箱体确保工件放置简便，精确的可编程的直流电机驱动的X-Y工作台快速和无振动移动以及原始射线从上往下设计为在Z-轴可移动的X-射线发生和接受装置。

这个特性使得该系统非常适合于测量大批量生产的部件，例如螺丝，连接器插针或大的线路板。按动按钮就可根据预设的测试点定位进行自动测量，并可自动的进行评估报告输出。
 
仪器介绍  
适用于Windows®2000的真Win32位程序带在线帮助功能；
频谱库中允许创建从元素钛至铀的任何一种新的应用；
能通过“应用工具箱”(由一个带所有应用参数的软盘和校准标准块组成)使校准简单化；
画中画测试件查看和数据显示，带快速移动焦距功能放大试件图像；十字星瞄准并带度量网格，以及测试点尺寸指示；
测试工件的视频图像可用BMP文件形式保存；
XYZ运行编程功能：随机单点，第1点、最后1点及等分的中间点，鼠标左键点选功能，鼠标右键的使用相当于操纵杆；
测量模式用于：
单、双及三层镀层系统
双元及三元合金镀层的分析和厚度测量
双层镀层，其中合金镀层在外层或在中间层的厚度测量和分析（两层的厚度和合金成分都能被测量）
能分析多达四种金属成分的合金并具分析金的K数的特殊功能。能分析含一到二种金属离子的电镀溶液；
频谱显示可自由选择颜色；并可同时显示前台和背景的频谱以便比较；频谱可储存和打印；
可使用定义的文件名进行应用文件的管理（应用文件包含应用名，数据表示方式，打印形式定义，输出模板设定及记事本）；
用户可定义的报告编辑器，并自动插入测试工件的显示图像，及一些小的图片，如公司标识，图表，数据排列，字体选择；可以WinWordTM形式保存；
单个的应用可连接至任意数量的应用文件（此种连接大大减少了所需要的校准及初始化步骤）；
使用条形码标签及可选的条形码读入键盘可自动选择应用；
可选择数据进行统计评估；
通过RS232串行口进行在线或离线的数据输出；
可通过RS232串行口或在网络环境下的指令文件进行远程控制；
可编程的应用项图标，用于快速应用项选择
完整的统计功能，SPC图，标准的概率图和矩形图评估
语言：英语，德语，法语，意大利语，西班牙语，中文及日文（需要特殊的Windows®版本）；
可自由定义“短目录”以锁住某些重要的系统功能；
涂镀层厚度的测量采用X-射线荧光测试方法，符合技术标准DIN50987，ISO3497和ASTM B568；
2.测量箱结构坚固，使用合格的机械和电气部件；
3.测量箱外部尺寸：（高×宽×深）720 mm×660 mm×950 mm，重量大约为135kg；
4.带槽箱体的内部尺寸：（高×宽×深）160 mm×560 mm×530 mm，带向上回转箱门；
5.原始射线从上至下；
6.高性能的X-射线管，高压及电流设定可调节至最佳的应用，高压设定：50kV，40kV或30kV；阳极电流：连续可调至0.8mA；
7.原生电子过滤器：Ni和Be；
8.4个对焦平面用于凹槽，腔体的测量，并可达到90mm；
9.标准视准器组件Ⅰ有以下组成：
0.1mm(4mil); 0.2mm(8mil); 0.05×0.05mm(2×2 mil)方形; 0.03×0.2mm(1x8mil)带槽；
在附加费用上可选的标准视准器组件Ⅱ（取代组件Ⅰ）有以下组成：
0.1mm(4mil); 0.2mm(8mil); 0.3mm(12mil)圆形; 0.05×0.3mm(2x12mil)带槽；
在附加费用上可选的标准视准器组件Ⅲ（取代组件Ⅰ）有以下组成：
0.2mm(8mil);圆形; 0.05×0.05mm(2x2mil);0.025X0.025mm(2X2mils)方型；0.03mmX0.2mm(1.2X8mil)带槽；
注：当测量PC印板，电脑接插件，引线框架等小工件时，推荐使用视准器组件Ⅰ
10.自动的X-射线光束十字星校准。该特性在测量极小工件时非常有用；
11.充氙气的比例计数器，频谱处理时，内部采用4096通道的ADC，对外显示为256通道；
12.快速编程，高精确度，电机带动的XY工作台运行范围：
型号XDVM®-T7.1：X=175mm（7.0〃）， Y=175mm（7.0〃）
型号XDVM®-T7： X=250mm（10.0〃）， Y=250mm（10.0〃）
13.工作台的控制可通过鼠标点选或操作杆
14.工作台面板可自动移出至工件放置位置；定位容易；
15.电机驱动及高度（Z-轴）可编程的X-射线头部（X-射线管，比例计数器及视准器组件）；Z-轴运行=145mm（5.9〞）；
16.高分辨率的彩色摄像头用于测试工件的定位及查看；可选择的双重放大率X40/X80，带十字星及度量网格以及测试点尺寸指示；
17.测量箱键盘适合于最常用的测量功能和程序选择，操纵杆控制X-Y工作台，钥匙控制X-射线头的缓慢或快速的上下移动，LED状态指示灯。
 

SFT157X射线镀层厚度测量仪

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SFT157X射线镀层厚度测量仪

SFT157X射线镀层厚度测量仪

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SFT157X射线镀层厚度测量仪

SFT157 X射线镀层厚度测量仪,可测量电镀、蒸镀、离子镀等各种金属镀层的厚度,可通过CCD摄像机来观察及选择微小面积以进行镀层厚度的测量,避免直接接触或破坏被测物

1.可测量电镀、蒸镀、离子镀等各种金属镀层的厚度。
2.可通过CCD摄像机来观察及选择微小面积以进行镀层厚度的测量,避免直接接触或破坏被测物。
3.备有250个以上的镀层厚度测量和成分分析时所需的标准样品。

Oxford牛津CMI900(X荧光镀层测厚仪)

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Oxford牛津CMI900(X荧光镀层测厚仪)

Oxford牛津CMI900(X荧光镀层测厚仪)

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Oxford牛津CMI900(X荧光镀层测厚仪)

CMI900 是一款性价比极高的台式 X 射线荧光光谱仪，应用于涂镀层厚度测量及材料成分分析。

高性能X射线荧光光谱仪

  • 快速精确的分析：正比计数探测器和50瓦微焦X射线管，大大提高了灵敏度
  • 简单的元素区分：二次光束过滤器可以分离重叠元素
  • 性能优化，测量元素范围广： 可预设参数
    CMI900 提供800多种预设应用参数/方法
  • 杰出的长期稳定性：
    • 自动热补偿测量仪器温度，纠正变化，提供稳定的结果
    • 简单快速的光谱校准，定期检查仪器性能（如灵敏度），并提供必要的纠正

坚固耐用的设计

  • 可以在实验室或生产线上操作
  • 坚固的工业设计
  • 经行业验证的技术，在全球销售量超过3000台
  • 电子元件

    有效调整生产过程，从而提高生产力

    • 确保元件可靠性
      • 测量焊料合金成份和镀层厚度
    • 优化质量控制，从而确保产品生命周期
      • 分析导电性镀层金和钯的厚度
      • 测量电脑硬盘上的NiP层厚度

Oxford牛津CMI730(台式涂镀层测厚仪)

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Oxford牛津CMI730(台式涂镀层测厚仪)

Oxford牛津CMI730(台式涂镀层测厚仪)

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Oxford牛津CMI730(台式涂镀层测厚仪)

CMI730测厚仪能同时为磁性基材上的非磁性涂/镀层、导性基材上的非导性涂/镀层，以及磁性基材上的电镀镍层提供高科技的无损涂镀层厚度检测。CMI730测厚仪所使用的大型带背光的液晶显示器，保证您能从任意角度以及较远的距离轻松观察到这台测厚仪测量的数据和结果，并能在最短的时间内提供最精确的测量结果。

  • 无损测量各种金属镀层
  • 精度高、稳定性好
  • 测量精度可与X射线测厚仪媲美
  • 可测量各种微型部件(φ2.5mm)
  • 强大的数据处理能力
  • 大面积LCD显示，清晰易观
  • 数据存储、统计、图表分析
  • 模块化操作菜单，简单易用
  • 232接口，可连接电脑
  • 打印并口，可直接连打印机

Oxford牛津CMI243(便携金属镀层测厚仪)

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Oxford牛津CMI243(便携金属镀层测厚仪)

Oxford牛津CMI243(便携金属镀层测厚仪)

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Oxford牛津CMI243(便携金属镀层测厚仪)

CMI243镀层测厚仪是一款灵便易用的仪器，专为金属表面处理者设计，配置的单探头可测量铁质底材上几乎所有金属镀层。在极小的、形状特殊的或表面粗糙的样品上进行测量的能力，使这款镀层测厚仪成为紧固件行业应用的理想工具。

采用基于相位电涡流技术，CMI243手持式镀层测厚仪以友好的控制和可以与X射线荧光测厚仪媲美的准确、精密的测量而著称。

测量技术：一般的测试方法，例如一般测厚仪制造商所采用的普通磁感应和涡流方式，由于探头的"升离效应"导致的底材效应，和由于测试件形状和结构导致的干扰，都无法达到对金属性镀层厚度的精确测量。而牛津仪器将最新的基于相位电涡流技术应用到CMI243镀层测厚仪，使其达到了±3%以内（对比标准片）的准确度和0.3%以内的精确度。牛津仪器对电涡流技术的独特应用，将底材效应最小化，使得测量精准且不受零件的几何形状影响。另外，镀层测厚仪一般不需要在铁质底材上进行校准。

  • 便携式、无损测量各种金属镀层
  • 精度高、稳定性好
  • 测量精度可与X射线测厚仪媲美
  • 可测量各种微型部件(φ2.5mm)
  • 232接口，可连接打印机或电脑

Oxford牛津CMI250(便携式涂镀层测厚仪)

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Oxford牛津CMI250(便携式涂镀层测厚仪)

Oxford牛津CMI250(便携式涂镀层测厚仪)

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Oxford牛津CMI250(便携式涂镀层测厚仪)

钢铁及有色金属底材上涂层厚度的先进测量技术

双功能技术特色：基于磁感应和电涡流技术，具有统计分析功能和USB电脑接口。CMI250是一款多功能仪器，其技术基础是我们久负盛名的涡流/磁感应双探头技术。

该仪器的功能包括工厂和用户双重校准、自动温度补偿、基线校正、测量存储选项、日期和时间自行设定、统计分析和USB电脑连接。

CMI250适用于多种配置，可测量有色金属底材上的非导电涂层和钢铁底材上的非磁性涂层。

为以下行业提供理想的检测方案：

  • 工业涂料和油漆制造商
  • 家电镀层及表面处理企业
  • 油漆和粉末涂料制造商
  • 汽车及航空制造业
  • 涂层检测机构
  • 电镀厂
  • 涂料销售商

涂层厚度的测量结果、日期及时间、统计分析等储存后可通过连接线发送到您的电脑。

涡流技术测量如铝、黄铜或铜等有色金属上的非导电涂层：特富龙、搪瓷、环氧树脂、阳极氧化膜、粉末涂料、油漆等。

磁感应技术用于测量钢铁底材上的非磁性涂层：锌、镉、油漆、涂料等。