Oxford牛津CMI900(X荧光镀层测厚仪)

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品牌：Oxford牛津
生产厂家：Oxford牛津
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Oxford牛津CMI900(X荧光镀层测厚仪)

CMI900 是一款性价比极高的台式 X 射线荧光光谱仪，应用于涂镀层厚度测量及材料成分分析。

高性能X射线荧光光谱仪

• 快速精确的分析：正比计数探测器和50瓦微焦X射线管，大大提高了灵敏度
• 简单的元素区分：二次光束过滤器可以分离重叠元素
• 性能优化，测量元素范围广： 可预设参数
  CMI900 提供800多种预设应用参数/方法
• 杰出的长期稳定性：
  • 自动热补偿测量仪器温度，纠正变化，提供稳定的结果
  • 简单快速的光谱校准，定期检查仪器性能（如灵敏度），并提供必要的纠正

坚固耐用的设计

• 可以在实验室或生产线上操作
• 坚固的工业设计
• 经行业验证的技术，在全球销售量超过3000台
• 电子元件

  有效调整生产过程，从而提高生产力

  • 确保元件可靠性
    • 测量焊料合金成份和镀层厚度
  • 优化质量控制，从而确保产品生命周期
    • 分析导电性镀层金和钯的厚度
    • 测量电脑硬盘上的NiP层厚度