天光15J型测量显微镜
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品牌：天光
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天光15J型测量显微镜
直角坐标中测定长度，例如测定孔距，基面距离，刻线宽度，键槽宽度，狭缝宽度，通孔外圆直径等等，转动度盘测定角度，例如对刻度盘，样板，量规，钻孔模板及几何形状复杂的零件进行角度测量，用作观察显微镜，以比较法检查工作平面光洁度，鉴定冶金工业的矿石标本。鉴定印刷照相制版，检验纺织纤维等等。
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